See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Mutation Analysis for SystemC Designs at TLM

Guarnieri, V.; Hantson, H.; Raik, J.; Jenihhin, M.; Bombieri, N.; Pravadelli, G.; Fummi, F.; Ubar, R. (2011). Mutation Analysis for SystemC Designs at TLM. In: 12th IEEE Latin-American Test Workshop Proceedings (1−6). Porto de Galinhas, Brasiilia: IEEE Computer Society Press.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Guarnieri, V.; Hantson, H.; Raik, J.; Jenihhin, M.; Bombieri, N.; Pravadelli, G.; Fummi, F.; Ubar, R.
  • Inglise
12th IEEE Latin-American Test Workshop Proceedings
Porto de Galinhas, Brasiilia
IEEE Computer Society Press
2011
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile