Electron Probe Microanalysis of HfO2 Thin Films on Conductive and Insulating Substrates

Lulla, M.; Asari, J.; Aarik, J.; Kukli, K.; Rammula, R.; Tapper, U.; Kauppinen, E.; Sammelselg, V. (2006). Electron Probe Microanalysis of HfO2 Thin Films on Conductive and Insulating Substrates. Microchimica Acta, 155, 195−198.10.1007/s00604-006-0542-9.
ajakirjaartikkel
Lulla, M.; Asari, J.; Aarik, J.; Kukli, K.; Rammula, R.; Tapper, U.; Kauppinen, E.; Sammelselg, V.
  • Inglise
Microchimica Acta
1436-5073
155
2006
195198
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1007/s00604-006-0542-9