See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Growth, surface morphology, and electrical resistivity of fully strained substoichiometric epitaxial TiNx (0.67 x < 1.0) layers on MgO(001).

Shin, C.-S.; Rudenja, S.; Gall, D.; Hellgren, N.; Lee, T.-Y.; Petrov, I.; Greene, J. E. (2004). Growth, surface morphology, and electrical resistivity of fully strained substoichiometric epitaxial TiNx (0.67 x < 1.0) layers on MgO(001). Journal of Applied Physics, 95 (1), 356−362.
artikkel ajakirjas
Shin, C.-S.; Rudenja, S.; Gall, D.; Hellgren, N.; Lee, T.-Y.; Petrov, I.; Greene, J. E.
  • Inglise
Journal of Applied Physics
0021-8979
95
1
2004
356362
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo