Design error diagnosis in digital circuits with stuck-at fault model

Jutman, A.; Ubar, R (2000). Design error diagnosis in digital circuits with stuck-at fault model. Microelectronics Reliability, 40 (2), 307−320.
ajakirjaartikkel
Jutman, A.; Ubar, R
  • Inglise
Microelectronics Reliability
Oxford
Pergamon-Elsevier Science Ltd
0026-2714
40
2
2000
307320
14
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Web of Science