Re-using chip level DFT at board level

Gu, X.; Rearick, J.; Eklow, B.; Keim, M.; Qian, J.; Jutman, A.; Chakrabarty, K.; Larsson, E. (2012). Re-using chip level DFT at board level. IEEE 17th European Test Symposium, Annecy, France, May 28 – June 1,. IEEE Computer Society,.
publitseeritud konverentsiettekanne
Gu, X.; Rearick, J.; Eklow, B.; Keim, M.; Qian, J.; Jutman, A.; Chakrabarty, K.; Larsson, E.
  • Inglise
IEEE 17th European Test Symposium, Annecy, France, May 28 – June 1,
IEEE Computer Society
2012
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile