See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

New Technique for Hierarchical Identification of Untestable Faults in Sequential Circuits

Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus (2008). New Technique for Hierarchical Identification of Untestable Faults in Sequential Circuits. In: IKTDK 2008 aastakonverents, Voore, Estonia, Apr. 25-26, 2008 (155−158).. Tallinn Technological University Library.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Anna Krivenko, Raimund Ubar, Jaan Raik, Margus Kruus
  • Inglise
IKTDK 2008 aastakonverents, Voore, Estonia, Apr. 25-26, 2008
Tallinn Technological University Library
2008
155158
Ilmunud
3.5. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud kohalikes konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo