See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Multi-level test generation for digital systems at system, circuit and defect levels

Ubar, Raimund-Johannes (2001). Multi-level test generation for digital systems at system, circuit and defect levels. "Proc. of 7th International Scientific Conference ""Theory and Technique of Information Transmission, Reception and Processing"" : Tuapse, 2001". Harkov University of Technology, puudub−puudub.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, Raimund-Johannes
"Proc. of 7th International Scientific Conference ""Theory and Technique of Information Transmission, Reception and Processing"" : Tuapse, 2001"
Harkov University of Technology
2001
puudubpuudub
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo