See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

On using genetic algorithm for test generation

Brik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ivask, Eero (2004). On using genetic algorithm for test generation. 9th Biennial Baltic Electronics Conference. 233−236.
publitseeritud konverentsiettekanne
Brik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ivask, Eero
9th Biennial Baltic Electronics Conference
2004
233236
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile