See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems, Microelectronics

Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems, Microelectronics. MIEL 2002. 23rd International Conference, 2: 12-15 May 2002. IEEE Computer Society Press, 617−620.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M.
MIEL 2002. 23rd International Conference
12-15 May 2002
IEEE Computer Society Press
2
2002
617620
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo

IEEEXplore