Functional Built-In Self-Test for Processor Cores in SoC

Ubar, R.; Indus, V.; Kalmend, O.; Evartson, T. (2012). Functional Built-In Self-Test for Processor Cores in SoC. 30th IEEE NORCHIP Conference, Copenhagen, Denmark, Nov. 12-14, 2012.. IEEE, 1−4.10.1109/NORCHP.2012.6403148.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, R.; Indus, V.; Kalmend, O.; Evartson, T.
  • Inglise
30th IEEE NORCHIP Conference, Copenhagen, Denmark, Nov. 12-14, 2012.
IEEE
978-1-4673-2221-8
2012
14
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1109/NORCHP.2012.6403148