See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Thermal probe for determining semiconductor majority carriers

Gavrilov, A.A.; Klopov, M.V. (1995). Thermal probe for determining semiconductor majority carriers. Instruments and Experimental Techniques, 38 (3), 421−422.
ajakirjaartikkel
Gavrilov, A.A.; Klopov, M.V.
  • Inglise
Instruments and Experimental Techniques
0020-4412
38
3
1995
421422
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Web of Science