See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Fault Diagnosis in Integrated Circuits with BIST

Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Evartson, Teet; Lensen, Harri (2007). Fault Diagnosis in Integrated Circuits with BIST. In: Proceedings of 10th EUROMICRO Conference on Digital System Design - DSD 2007 (604-610).. IEEE Computer Society Press.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Evartson, Teet; Lensen, Harri
  • Inglise
Proceedings of 10th EUROMICRO Conference on Digital System Design - DSD 2007
IEEE Computer Society Press
ISBN 0-7695-2978-X
2007
604-610
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile