See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Automatic Test Generation System for VLSI

Jervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (1997). Automatic Test Generation System for VLSI. 1-st Electronic Circuits and Systems Conference, Bratislava, Slovakia, Sep. 4-5, 1997. 255−258.
publitseeritud konverentsiettekanne
Jervan, Gert; Markus, Antti; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
1-st Electronic Circuits and Systems Conference, Bratislava, Slovakia, Sep. 4-5, 1997
1997
255258
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo