See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

New Fault Models and Self-Test Generation for Microprocessors using High-Level Decision Diagrams

Jasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tsertov, Anton; Ubar, Raimund (2015). New Fault Models and Self-Test Generation for Microprocessors using High-Level Decision Diagrams. IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS. Belgrade, Serbia, April 22-24, 2015: IEEE Computer Society Press, 1−6.
publitseeritud konverentsiettekanne
Jasnetski, Artjom; Raik, Jaan; Tsertov, Anton; Ubar, Raimund
  • Inglise
IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS
Belgrade, Serbia, April 22-24, 2015
IEEE Computer Society Press
2015
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile