See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics

Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2008). Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics. IDC. Springer-Verlag,.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
  • Inglise
Hajuslahendus geneetilisele testigenereerimisele digitaalelektroonika valdkonnas
IDC
Springer-Verlag
2008
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile