Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics

Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2008). Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics. IDC. Springer-Verlag,.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund
  • Inglise
Hajuslahendus geneetilisele testigenereerimisele digitaalelektroonika valdkonnas
IDC
Springer-Verlag
2008
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile