See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Self-trapping of the d-d transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence

Sokolov, V.; Pustovarov, V.; Ivanov, V.; Gruzdev, N.; Sokolov, P.; Baranov, A.; Moskvin, A. (2012). Self-trapping of the d-d transfer exciton in bulk NiO evidenced by X-ray excited luminescence. JETP Letters, 95 (10), 595−600.
artikkel ajakirjas
Sokolov, V.; Pustovarov, V.; Ivanov, V.; Gruzdev, N.; Sokolov, P.; Baranov, A.; Moskvin, A.
  • Inglise
JETP Letters
95
10
2012
595600
Ilmunud
6.6. Muudes ajakirjades ja ajalehtedes avaldatud artiklid;
Teadmata

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo