See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

High-Level Test Generation for Processing Elements in Many-Core Systems

Oyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund; Azad, Siavoosh Payandeh; Raik, Jaan (2017). High-Level Test Generation for Processing Elements in Many-Core Systems. In: 12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC 2017) (1−6).10.1109/ReCoSoC.2017.8016156.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Oyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund; Azad, Siavoosh Payandeh; Raik, Jaan
  • Inglise
12th International Symposium on Reconfigurable Communication-centric Systems-on-Chip (ReCoSoC 2017)
IEEE Computer Cociety
978-1-5386-3344-1
2017
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1109/ReCoSoC.2017.8016156

Lisainfo