A Test Pattern Reordering Technique for Average Test Power Reduction.

Shchenova, Tatjana; Jervan, gert; Ubar, Raimund (2006). A Test Pattern Reordering Technique for Average Test Power Reduction. Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik (31−35).. Tallinna Tehnikaülikool.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Shchenova, Tatjana; Jervan, gert; Ubar, Raimund
Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik
Tallinna Tehnikaülikool
9985-59-624-2
2006
3135
Ilmunud
3.5. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud kohalikes konverentsikogumikes

Viited terviktekstile