See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Fault Collapsing in Digital Circuits Using Fast Fault Dominance and Equivalence Analysis with SSBDDs.

Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan (2016). Fault Collapsing in Digital Circuits Using Fast Fault Dominance and Equivalence Analysis with SSBDDs. In: Eds. Y.Shin, C.Tsui, J.Kim, K.Choi, R.Reis (Ed.). VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power (23−45). Springer.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan
  • Inglise
VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
Eds. Y.Shin, C.Tsui, J.Kim, K.Choi, R.Reis
Springer
1868-4238
978-3-319-46096-3
2016
2345
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo