See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Constraint-Based Hierarchical Untestability Identification for Synchronous Sequential Circuits

Raik, J; Rannaste, A; Jenihhin, M; Viilukas, T; Fujiwara, H; Ubar, R (2011). Constraint-Based Hierarchical Untestability Identification for Synchronous Sequential Circuits. Proceedings of IEEE European Test Symposium, (1−6).. IEEE Computer Society Press.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Raik, J; Rannaste, A; Jenihhin, M; Viilukas, T; Fujiwara, H; Ubar, R
Proceedings of IEEE European Test Symposium,
IEEE Computer Society Press
2011
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile