See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing parts

"Ubar, Raimund-Johannes;Raik, Jaan" (1999). Hierarchical test generation for complex digital systems with control and data processing parts. “Test, Assembly and Packaging”, SEMICON Technical Symposium (43−52).. Singapur University of Technology.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Ubar, Raimund-Johannes;Raik, Jaan"
“Test, Assembly and Packaging”, SEMICON Technical Symposium
Singapur University of Technology
1999
4352
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo