See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Measuring and Identifying Aging-Critical Paths in FPGAs

Pfeifer, P.; Raik, J.; Jenihhin, M.; Ubar, R.; Pliva, Z. (2015). Measuring and Identifying Aging-Critical Paths in FPGAs. In: Proceedings of Design, Automation and Test in Europe Conference 2015, DATE Friday Workshop (56−61). Grenoble, France, March 13, 2015: Median.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Pfeifer, P.; Raik, J.; Jenihhin, M.; Ubar, R.; Pliva, Z.
  • Inglise
Proceedings of Design, Automation and Test in Europe Conference 2015, DATE Friday Workshop
Grenoble, France, March 13, 2015
Median
2015
5661
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes