See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Copper diffusion in thin In2S3 layers investigated by Rutherford Backscattering Spectroscopy

Juma, A. O.; Pistor, P.; Fengler, S.; Dittrich, T.; Wendle, E. (2012). Copper diffusion in thin In2S3 layers investigated by Rutherford Backscattering Spectroscopy. Thin Solid Films, 520, 6740−6743. DOI: 10.1016/j.tsf.2012.07.042.
artikkel ajakirjas
Juma, A. O.; Pistor, P.; Fengler, S.; Dittrich, T.; Wendle, E.
  • Inglise
Thin Solid Films
0040-6090
520
2012
67406743
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Ei
WOS

Viited terviktekstile

doi.org/10.1016/j.tsf.2012.07.042

Seotud asutused

Lisainfo