See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip

Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Vierhaus, Heinrich Theodor (2011). Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip. USA, Hershey - New York: Information Science Reference, IGI Global.
raamat/monograafia
Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Vierhaus, Heinrich Theodor
Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Vierhaus Heinrich Theodor
USA, Hershey - New York
Information Science Reference, IGI Global
978-1-60960-212-3 (hardcover)
2011
550
Ilmunud
2.1. Monograafiad

Viited terviktekstile