See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

RT-level test point insertion for sequential circuits

"Raik, Jaan;Govind, V.;Ubar, Raimund-Johannes" (2004). RT-level test point insertion for sequential circuits. IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment – IWoTA-2004 (34−40).. IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Raik, Jaan;Govind, V.;Ubar, Raimund-Johannes"
IEEE 1st International Workshop on Testability Assessment – IWoTA-2004
IEEE
2004
3440
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile