Test generation for finite state machines

Ubar, R.; Brik, M. (1996). Test generation for finite state machines. BEC '96. The 5th Biennial Baltic Electronics Conference. Proceedings (233−236).. Tallinn: Tallinn Technical University.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, R.; Brik, M.
BEC '96. The 5th Biennial Baltic Electronics Conference. Proceedings
Tallinn
Tallinn Technical University
1996
233236
Ilmunud
3.4. Artiklid/ettekanded, mis on avaldatud valdkonda 3.1. mittekuuluvates konverentsikogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo

INSPEC