Fault Modeling and Test Generation with Low- and High-Level Decision Diagrams (Invited Talk)

Ubar, Raimund (2012). Fault Modeling and Test Generation with Low- and High-Level Decision Diagrams (Invited Talk). 24.GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. Cottbus, Germany, February 26-28, 2012.. 1−12.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, Raimund
24.GI/GMM/ITG-Workshop: Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen. Cottbus, Germany, February 26-28, 2012.
2012
112
Ilmunud
3.2. Artiklid/peatükid lisas mitte loetletud kirjastuste välja antud kogumikes

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