See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Targeting conditional operations in sequential test pattern generation

"Raik, Jaan;Ubar, Raimund-Johannes" (2004). Targeting conditional operations in sequential test pattern generation. IEEE European Test Symposium (17−18).. IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
"Raik, Jaan;Ubar, Raimund-Johannes"
IEEE European Test Symposium
IEEE
2004
1718
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo