Embedded Synthetic Instruments for Board-Level Testing

Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Aleksejev, Igor; Wenzel, Thomas (2012). Embedded Synthetic Instruments for Board-Level Testing. IEEE 17th European Test Symposium, Annecy, France, May 28 – June 1. IEEE Computer Society,.
publitseeritud konverentsiettekanne
Jutman, Artur; Devadze, Sergei; Aleksejev, Igor; Wenzel, Thomas
  • Inglise
IEEE 17th European Test Symposium, Annecy, France, May 28 – June 1
IEEE Computer Society
2012
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile