Testability calculation for digital circuits with decision diagrams

Ubar, Raimund-Johannes (2002). Testability calculation for digital circuits with decision diagrams. 3rd IEEE Latin-American Test Workshop – LATW’2002 (137−143).. [S.l.]: IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund-Johannes
3rd IEEE Latin-American Test Workshop – LATW’2002
[S.l.]
IEEE
2002
137143
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo