Turning JTAG inside out for fast extended test access

Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund (2009). Turning JTAG inside out for fast extended test access. 10th IEEE Latin American Test Workshop, 2-5 March, 2009, Buzios, Brazil. Buzios, Brazil: IEEE, 1−6.
publitseeritud konverentsiettekanne
Devadze, Sergei; Jutman, Artur; Aleksejev, Igor; Ubar, Raimund
  • Inglise
10th IEEE Latin American Test Workshop, 2-5 March, 2009, Buzios, Brazil
Buzios, Brazil
IEEE
978-1-4244-4206-5
2009
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile