Mixed bottom-up/top-down hierarchical test generation for digital systems

Ubar, Raimund-Johannes (1998). Mixed bottom-up/top-down hierarchical test generation for digital systems. the 9th European Workshop on Dependable Computing (37−40).. IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund-Johannes
the 9th European Workshop on Dependable Computing
IEEE
1998
3740
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Seotud asutused

Lisainfo