See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators

Raik, Jaan; Repinski, Urmas; Tšepurov, Anton; Hantson, Hanno; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim. (2013). Automated design error debug using high-level decision diagrams and mutation operators. Microprocessors and Microsystems: Embedded Hardware Design, 37 (4), 1−10.
ajakirjaartikkel
Raik, Jaan; Repinski, Urmas; Tšepurov, Anton; Hantson, Hanno; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim.
  • Inglise
Microprocessors and Microsystems: Embedded Hardware Design
ISSN: 0141-9331
37
4
2013
110
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile