Study of thin oxide films by electron, ion and synchrotron radiation beams

Sammelselg, V.; Rauhala, E.; Arstila, K.; Zakharov, A.; Aarik, J.; Kikas, A.; Karlis, J.; Tarre, A.; Seppala, A.; Asari, J.; Martinson, I. (2002). Study of thin oxide films by electron, ion and synchrotron radiation beams. Mikrochimica Acta, 139, 165−169.
ajakirjaartikkel
Sammelselg, V.; Rauhala, E.; Arstila, K.; Zakharov, A.; Aarik, J.; Kikas, A.; Karlis, J.; Tarre, A.; Seppala, A.; Asari, J.; Martinson, I.
  • Inglise
Mikrochimica Acta
Springer-Verlag Wien
0026-3672
139
2002
165169
5
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile