See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

High-Level Decision Diagrams based Coverage Metrics for Verification and Test

Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Chepurov, Anton; Reinsalu, Uljana; Ubar, Raimund (2009). High-Level Decision Diagrams based Coverage Metrics for Verification and Test. In: Proceedings of 10th IEEE Latin American Test Workshop (1−6).. IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Jenihhin, Maksim; Raik, Jaan; Chepurov, Anton; Reinsalu, Uljana; Ubar, Raimund
  • Inglise
Proceedings of 10th IEEE Latin American Test Workshop
IEEE
2009
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile