See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Changes in SOFC Cathode Crystallographic Structure Induced by Temperature, Potential and Oxygen Partial Pressure Studied Using in-situ HT-XRD

Kivi, I;Aruväli, J; Kirsimäe, K; Heinsaar, A; Nurk, G; Lust, E. (2015). Changes in SOFC Cathode Crystallographic Structure Induced by Temperature, Potential and Oxygen Partial Pressure Studied Using in-situ HT-XRD. ECS Transaction, 68: ECS Conference on Electrochemical Energy Conversion & Storage with SOFC-XIV, Glasgow, July 26-31, 2015. Ed. S.C. Singhal. Atlex, 671−679.
publitseeritud konverentsiettekanne
Kivi, I;Aruväli, J; Kirsimäe, K; Heinsaar, A; Nurk, G; Lust, E.
  • Inglise
ECS Transaction
S.C. Singhal
ECS Conference on Electrochemical Energy Conversion & Storage with SOFC-XIV, Glasgow, July 26-31, 2015
Atlex
68
2015
671679
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)