High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams

Raik, Jaan; Repinski, Urmas; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Chepurov, Anton (2010). High-level design error diagnosis using backtrace on decision diagrams. 28th Norchip Conference 15-16 November 2010, Tampere, FINLAND. IEEE,.
publitseeritud konverentsiettekanne
Raik, Jaan; Repinski, Urmas; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Chepurov, Anton
28th Norchip Conference 15-16 November 2010, Tampere, FINLAND
IEEE
2010
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile