See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

About Robustness of Test Patterns Regarding Multiple Faults

Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan (2012). About Robustness of Test Patterns Regarding Multiple Faults. 13th Latin-American Test Workshop, Quito, Ecuador, April 10-13, 2012. IEEE, 86−91.10.1109/LATW.2012.6261243.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan
13th Latin-American Test Workshop, Quito, Ecuador, April 10-13, 2012
IEEE
978-1-4673-2355-0
2012
8691
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1109/LATW.2012.6261243