Test Methods for Crosstalk Induced Delay and Glitch Faults in NoC Interconnects

Bengtsson, T.; Kumar, S.; Ubar, R.; Jutman, A.; Peng, Z. (2008). Test Methods for Crosstalk Induced Delay and Glitch Faults in NoC Interconnects. IET Computers & Digital Techniques, 2 (6), 445−460.
ajakirjaartikkel
Bengtsson, T.; Kumar, S.; Ubar, R.; Jutman, A.; Peng, Z.
  • Inglise
IET Computers & Digital Techniques
1751-8601
2
6
2008
445460
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile