Fast Extended Test Access via JTAG and FPGAs

Devadze, S.; Jutman, A.; Aleksejev, I.; Ubar, R. (2009). Fast Extended Test Access via JTAG and FPGAs. Proc. of 40th International Test Conference - ITC’2009: 40th International Test Conference - ITC’2009, Austin, Texas, Nov. 1-6, 2009. paper 2.3−pp- 1-7.
publitseeritud konverentsiettekanne
Devadze, S.; Jutman, A.; Aleksejev, I.; Ubar, R.
  • Inglise
Proc. of 40th International Test Conference - ITC’2009
40th International Test Conference - ITC’2009, Austin, Texas, Nov. 1-6, 2009
2009
paper 2.3pp- 1-7
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile