See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Scalable Algorithm for Structural Fault Collapsing in Digital Circuits

Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan (2015). Scalable Algorithm for Structural Fault Collapsing in Digital Circuits. IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration - VLSI-SoC'2015 (1−6). Oct. 5-7, 2015, Daejeon, Korea : IEEE Computer Society Press.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Ubar, Raimund; Jürimägi, Lembit; Orasson, Elmet; Raik, Jaan
IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration - VLSI-SoC'2015
Oct. 5-7, 2015, Daejeon, Korea
IEEE Computer Society Press
2015
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile