Spectroscopic study of nanocrystalline TiO2 thin films grown by atomic layer deposition

Suisalu, A.; Aarik, J.; Mandar, H.; Sildos, I. (1998). Spectroscopic study of nanocrystalline TiO2 thin films grown by atomic layer deposition. Thin Solid Films, 336, 295−298.
ajakirjaartikkel
Suisalu, A.; Aarik, J.; Mandar, H.; Sildos, I.
  • Inglise
Thin Solid Films
Elsevier Science SA
0040-6090
336
1998
295298
4
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Article
ISI Web of Science