Experimental evaluation of GaN Gate Injection Transistors

Rabkowski, J.; Barlik, R. (2015). Experimental evaluation of GaN Gate Injection Transistors. Przegląd Elektrotechniczny = Electrical Review, 91 (3), 9−12.10.15199/48.2015.03.03.
ajakirjaartikkel
Rabkowski, J.; Barlik, R.
  • Inglise
Przegląd Elektrotechniczny = Electrical Review
0033-2097
91
3
2015
912
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
SCOPUS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.15199/48.2015.03.03

Lisainfo