See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

AFM and SEM investigations of ion beam synthesized Mg2Si precipitates in Si substrates

Angelov, C.; Mikli, V.; Amov, B.; Goranova, E (2005). AFM and SEM investigations of ion beam synthesized Mg2Si precipitates in Si substrates. Journal of Optoelectronics and Advanced Materials, 7 (1), 369−372.
ajakirjaartikkel
Angelov, C.; Mikli, V.; Amov, B.; Goranova, E
  • Inglise
Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
Bucharest-Magurele
Natl Inst Optoelectronics
1454-4164
7
1
2005
369372
4
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
WOS

Viited terviktekstile