Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films.

Yakushev, M.V.; Maiello, P.; Raadik, T.; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W. (2014). Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films. In: Energy Procedia (166−172). Elsevier.10.1016/j.egypro.2014.12.359.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Yakushev, M.V.; Maiello, P.; Raadik, T.; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W.
  • Inglise
Energy Procedia
Energy Procedia
Elsevier
1876-6102
60
2014
166172
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1016/j.egypro.2014.12.359