See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST

Skobtsov, Y. A.; Ivanov, D. E.; Skobtsov, Y. V.; Ubar, R.; Raik, J. (2005). Evolutionary Approach to Test Generation for Functional BIST. Informal Proceedings of the IEEE European Test Symposium (151−155).. IEEE.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Skobtsov, Y. A.; Ivanov, D. E.; Skobtsov, Y. V.; Ubar, R.; Raik, J.
Informal Proceedings of the IEEE European Test Symposium
IEEE
2005
151155
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile