Greedy alternative for the static compaction of sequential circuit test sequences

Raik, Jaan (2000). Greedy alternative for the static compaction of sequential circuit test sequences. Baltic Electronics Conference. 133−136.
publitseeritud konverentsiettekanne
Raik, Jaan
  • Inglise
Baltic Electronics Conference
2000
133136
Ilmunud
3.2. Artiklid/peatükid lisas mitte loetletud kirjastuste välja antud kogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo

Sisaldab bibliogr.
integraallülitused., testid., algoritmid.