See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Greedy alternative for the static compaction of sequential circuit test sequences

Raik, Jaan (2000). Greedy alternative for the static compaction of sequential circuit test sequences. Baltic Electronics Conference. 133−136.
publitseeritud konverentsiettekanne
Raik, Jaan
  • Inglise
Baltic Electronics Conference
2000
133136
Ilmunud
3.2. Artiklid/peatükid lisas mitte loetletud kirjastuste välja antud kogumikes

Viited terviktekstile

Lisainfo

Sisaldab bibliogr.
integraallülitused., testid., algoritmid.