See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Exact Parallel Critical Path Fault Tracing to Speed-Up Fault Simulation in Sequential Circuits

Kõusaar, Jaak; Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Devadze, Sergei; Raik Jaan (2018). Exact Parallel Critical Path Fault Tracing to Speed-Up Fault Simulation in Sequential Circuits. International Journal of Microelectronics and Computer Science, 9 (1), 9−18.
ajakirjaartikkel
Kõusaar, Jaak; Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Devadze, Sergei; Raik Jaan
  • Inglise
International Journal of Microelectronics and Computer Science
2080-8755
9
1
2018
918
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
SCOPUS

Viited terviktekstile

Lisainfo