High-Level Automated Deterministic Test Generation for RISC Processors

Oyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil; Raik, Jaan (2019). High-Level Automated Deterministic Test Generation for RISC Processors. 24th IEEE 24th European Test Symposium, Baden Baden, Germany, May 27-31, 2019. IEEE Computer Science, 1−6.
publitseeritud konverentsiettekanne
Oyeniran, Adeboye Stephen; Ubar, Raimund; Jenihhin, Maksim; Gürsoy, Cemil; Raik, Jaan
  • Inglise
24th IEEE 24th European Test Symposium, Baden Baden, Germany, May 27-31, 2019
2019
16
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile

Lisainfo