See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Fast RTL Fault Simulation Using Decision Diagrams and Bitwise Set Operations

Reinsalu, Uljana; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ellervee, Peeter (2011). Fast RTL Fault Simulation Using Decision Diagrams and Bitwise Set Operations. Proceedings of 26th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (164−170).. Vancouver, Canada: IEEE Computer Society.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Reinsalu, Uljana; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ellervee, Peeter
Proceedings of 26th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Vancouver, Canada
IEEE Computer Society
2011
164170
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Thomson Reuters Book Citation Index, Thomson Reuters Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)

Viited terviktekstile